航天电子系统高可靠性抗辐射技术探究
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刊名 《机械工程》
作者 蔡 锐;王号平;徐鸿昊 (首都航天机械有限公司 北京 100076) 英文名 Mechanical engineering 年,卷(期) 2025年,第4期
主办单位 环宇科学出版社 刊号 ISSN:2661-3530(P)/2661-3549(O) DOI 10.12361/2661-3549-07-04-2072

航天电子系统高可靠性抗辐射技术探究

本论文深入探究航天电子系统高可靠性抗辐射技术。通过分析航天电子系统面临的复杂辐射环境及其对系统可靠性的影响,系统阐述硬件、 软件及系统级抗辐射技术的原理与应用。针对技术复杂性、成本压力等挑战,提出加强研发创新、开展多学科协同等应对策略。研究表明,综合运 用多种抗辐射技术并持续改进,可有效提升航天电子系统抗辐射能力,为航天任务的安全实施提供保障。

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