半导体探测器电流-电压特性表征
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刊名 《科技研究》
作者 赖墨涵 1 郁恺晟 2 杨昕吉吉2 英文名 年,卷(期) 2024年,第6期
主办单位 华文科学出版社 刊号 ISSN:3079-9244(原2717-5480) DOI

半导体探测器电流-电压特性表征

本研究聚焦半导体探测器的电流-电压特性,通过与辐照芯片对比,全面评估其性能、材料特 性和抗辐照能力,拓展应用范围。实验中,利用精密变压器精确测定半导体电流,获取了宝贵的电流-电 压表征数据。研究发现,半导体探测器在工业 CT、医疗成像、安全检查等领域展现出巨大应用潜力,前 景广阔。这一成果不仅推动技术革新,更在多个领域促进社会进步,彰显科技对提升生活质量的积极影响。 未来,半导体探测器有望在更广泛领域发挥关键作用,为人类社会带来更深远的福祉。

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